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2026/06/10(Wed)

Fundamentals of Electrical Safety Testing

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TOS7200_기본 성능

출력부

출력 전압 범위 −25V〜−1000Vdc
분해능1V
설정 정확도±(1.5% of setting + 2V)
최대 정격 부하1W(−1000Vdc/1mA)
최대 정격 전류1mA
출력 단자출력 형식플로팅
접지 전압±1000Vdc
리플1kV 무부하2 Vp-p 이하
최대 정격 부하10 Vp-p 이하
단락 전류12 mA 이하
출력 상승 시간50ms 이하(10〜90%)[무부하]
방전 기능시험 종료 시 강제 방전(방전 저항 25kΩ)

전압계

측정 범위0V〜−1200V
분해능1V
정확도±(1% of reading + 1V)

저항계

측정 범위0.01MΩ〜5000MΩ(100nA를 초과하여 최대 정격 전류 1mA까지의 범위에서)
표시R < 10.0 MΩ:□.□□MΩ
10.0MΩ≦ R < 100.0MΩ:□□.□MΩ
100.0MΩ ≦ R < 1000MΩ:□□□MΩ
1000MΩ ≦ R ≦ 5000MΩ:□□□□MΩ
(R=측정 절연 저항값)
정확도100nA < i ≦ 200nA:±(10% of reading)
200nA < i ≦ 1μA:±(5% of reading)
1μA < i ≦1mA:±(2% of reading)
(습도 20%rh〜70%rh(결로 없을 것), 테스트 리드의 흔들림 등 외란이 없을 것)
(i=전압 측정값/저항 측정값)
측정 레인지 전류 측정 레인지를 AUTO 또는 FIX로 선택 가능
AUTO측정 전류값에 따라 전류 측정 레인지를 수시로 자동 변경
FIX출력 전압 설정값과 LOWER 설정값에 의해 전류 측정 레인지를 고정(UPPER OFF에서)
홀드 기능시험 종료 시의 측정 저항값을 PASS 기간 중 홀드

판정 기능

판정 방식/판정 동작
판정판정 방법표시부저SIGNAL I/O
UPPER FAIL상한 기준값 이상의 저항값을 검출한 경우 출력을 차단하고 UPPER FAIL로 판정.FAIL LED가 점등
UPPER LED가 점등
ONU FAIL 신호를 출력
LOWER FAIL하한 기준값 이하의 저항값을 검출한 경우 출력을 차단하고 LOWER FAIL로 판정, 단 시험 시작부터 판정 대기 시간(WAIT TIME) 내에는 판정을 수행하지 않음FAIL LED가 점등
LOWER LED가 점등
ONL FAIL 신호를 출력
PASS설정 시간을 경과하고 이상이 없으면 출력을 차단하고 PASS로 판정PASS LED가 점등ONPASS 신호를 출력
  • PASS 신호는 약 200ms간 출력, 단 PASS HOLD에서 “HOLD”로 설정되어 있을 때는 STOP이 입력될 때까지 연속 출력
  • UPPER FAIL, LOWER FAIL 신호는 STOP이 입력될 때까지 연속 출력
  • FAIL 또는 PASS의 부저 음량은 조절 가능, 단 공통 설정이므로 단독 조정은 불가능합니다
상한 기준값(UPPER) 설정 범위0.01MΩ〜5000MΩ [단, 최대 정격 전류 이하의 범위에서]
하한 기준값(LOWER) 설정 범위0.01MΩ〜5000MΩ [단, 최대 정격 전류 이하의 범위에서]
판정 정확도
UPPER/LOWER 공통
i=시험 전압/(UPPER, LOWER)100nA ≦ i ≦ 200 nA200 nA < i ≦ 1μA1μA < i ≦ 1mA
UPPER, LOWER0.01 ≦ R < 10.0MΩ±(2% of setting + 3digit)
10.0 ≦ R < 50.0MΩ±(5% of setting + 5digit)±(2% of setting + 3digit)
50.0 ≦ R < 100MΩ±(5% of setting + 5digit)±(2% of setting + 3digit)
100 MΩ ≦ R < 200MΩ±(10% of setting + 5digit)±(5% of setting + 5digit)±(2% of setting + 3digit)
200 MΩ ≦ R < 500MΩ±(10% of setting + 5digit)±(5% of setting + 5digit)±(2% of setting + 3digit)
500 MΩ ≦ R < 1000MΩ±(10% of setting + 5digit)±(5% of setting + 5digit)±(2% of setting + 3digit)
1000MΩ ≦ R < 2000MΩ±(10% of setting + 50digit)±(5% of setting + 50digit)
2000MΩ ≦ R < 5000MΩ±(10% of setting + 100digit)±(5% of setting + 50digit)
(습도 20%rh〜70%rh(결로 없을 것), 테스트 리드의 흔들림 등 외란이 없을 것)
(LOWER 판정은 판정 대기 시간 종료 후, 0.5s 이상의 시험 시간이 필요합니다. 또한, 200nA 이하의 LOWER 판정에는 1.0s 이상의 판정 대기 시간이 필요합니다)

시간

시험 시간 설정 범위(TEST TIME)0.5s〜999s TIMER OFF 기능 있음
판정 대기 시간 설정 범위(WAIT TIME)0.3s〜10s [TEST TIME > WAIT TIME]
정확도±(100ppm + 20ms)
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