TOS7200_기본 성능
이 표는 다음 제품 사양의 일부입니다:TOS7200
출력부
| 출력 전압 범위 | | −25V〜−1000Vdc |
|---|
| 분해능 | 1V |
|---|
| 설정 정확도 | ±（1.5％ of setting ＋ 2V） |
|---|
| 최대 정격 부하 | 1W（−1000Vdc／1mA） |
|---|
| 최대 정격 전류 | 1mA |
|---|
| 출력 단자 | 출력 형식 | 플로팅 |
|---|
| 접지 전압 | ±1000Vdc |
|---|
| 리플 | 1kV 무부하 | 2 Vp-p 이하 |
|---|
| 최대 정격 부하 | 10 Vp-p 이하 |
|---|
| 단락 전류 | 12 mA 이하 |
|---|
| 출력 상승 시간 | 50ms 이하（10〜90％）［무부하］ |
|---|
| 방전 기능 | 시험 종료 시 강제 방전（방전 저항 25kΩ） |
|---|
전압계
| 측정 범위 | 0V〜−1200V |
|---|
| 분해능 | 1V |
|---|
| 정확도 | ±（1％ of reading ＋ 1V） |
|---|
저항계
| 측정 범위 | 0.01MΩ〜5000MΩ（100nA를 초과하여 최대 정격 전류 1mA까지의 범위에서） |
|---|
| 표시 | R ＜ 10.0 MΩ：□.□□MΩ
10.0MΩ≦ R ＜ 100.0MΩ：□□.□MΩ
100.0MΩ ≦ R ＜ 1000MΩ：□□□MΩ
1000MΩ ≦ R ≦ 5000MΩ：□□□□MΩ
（R=측정 절연 저항값） |
|---|
| 정확도 | 100nA ＜ i ≦ 200nA：±（10％ of reading）
200nA ＜ i ≦ 1μA：±（5％ of reading）
1μA ＜ i ≦1mA：±（2％ of reading）
（습도 20％rh〜70％rh（결로 없을 것）, 테스트 리드의 흔들림 등 외란이 없을 것）
（i=전압 측정값／저항 측정값） |
|---|
| 측정 레인지 | | 전류 측정 레인지를 AUTO 또는 FIX로 선택 가능 |
|---|
| AUTO | 측정 전류값에 따라 전류 측정 레인지를 수시로 자동 변경 |
|---|
| FIX | 출력 전압 설정값과 LOWER 설정값에 의해 전류 측정 레인지를 고정（UPPER OFF에서） |
|---|
| 홀드 기능 | 시험 종료 시의 측정 저항값을 PASS 기간 중 홀드 |
|---|
판정 기능
| 판정 방식/판정 동작 | | 판정 | 판정 방법 | 표시 | 부저 | SIGNAL I/O |
|---|
| UPPER FAIL | 상한 기준값 이상의 저항값을 검출한 경우 출력을 차단하고 UPPER FAIL로 판정. | FAIL LED가 점등
UPPER LED가 점등 | ON | U FAIL 신호를 출력 | | LOWER FAIL | 하한 기준값 이하의 저항값을 검출한 경우 출력을 차단하고 LOWER FAIL로 판정, 단 시험 시작부터 판정 대기 시간（WAIT TIME） 내에는 판정을 수행하지 않음 | FAIL LED가 점등
LOWER LED가 점등 | ON | L FAIL 신호를 출력 | | PASS | 설정 시간을 경과하고 이상이 없으면 출력을 차단하고 PASS로 판정 | PASS LED가 점등 | ON | PASS 신호를 출력 |
- PASS 신호는 약 200ms간 출력, 단 PASS HOLD에서 “HOLD”로 설정되어 있을 때는 STOP이 입력될 때까지 연속 출력
- UPPER FAIL, LOWER FAIL 신호는 STOP이 입력될 때까지 연속 출력
- FAIL 또는 PASS의 부저 음량은 조절 가능, 단 공통 설정이므로 단독 조정은 불가능합니다
|
|---|
| 상한 기준값(UPPER) 설정 범위 | 0.01MΩ〜5000MΩ ［단, 최대 정격 전류 이하의 범위에서］ |
|---|
| 하한 기준값(LOWER) 설정 범위 | 0.01MΩ〜5000MΩ ［단, 최대 정격 전류 이하의 범위에서］ |
|---|
판정 정확도
UPPER／LOWER 공통 | | i＝시험 전압／（UPPER, LOWER） | 100nA ≦ ｉ ≦ 200 nA | 200 nA ＜ ｉ ≦ 1μA | 1μA ＜ ｉ ≦ 1mA |
|---|
| UPPER, LOWER | 0.01 ≦ R ＜ 10.0MΩ | − | − | ±（2％ of setting ＋ 3digit） |
|---|
| 10.0 ≦ R ＜ 50.0MΩ | − | ±（5％ of setting ＋ 5digit） | ±（2％ of setting ＋ 3digit） | | 50.0 ≦ R ＜ 100MΩ | − | ±（5％ of setting ＋ 5digit） | ±（2％ of setting ＋ 3digit） | | 100 MΩ ≦ R ＜ 200MΩ | ±（10％ of setting ＋ 5digit） | ±（5％ of setting ＋ 5digit） | ±（2％ of setting ＋ 3digit） | | 200 MΩ ≦ R ＜ 500MΩ | ±（10％ of setting ＋ 5digit） | ±（5％ of setting ＋ 5digit） | ±（2％ of setting ＋ 3digit） | | 500 MΩ ≦ R ＜ 1000MΩ | ±（10％ of setting ＋ 5digit） | ±（5％ of setting ＋ 5digit） | ±（2％ of setting ＋ 3digit） | | 1000MΩ ≦ R ＜ 2000MΩ | ±（10％ of setting ＋ 50digit） | ±（5％ of setting ＋ 50digit） | − | | 2000MΩ ≦ R ＜ 5000MΩ | ±（10％ of setting ＋ 100digit） | ±（5％ of setting ＋ 50digit） | − |
（습도 20％rh〜70％rh（결로 없을 것）, 테스트 리드의 흔들림 등 외란이 없을 것）
（LOWER 판정은 판정 대기 시간 종료 후, 0.5s 이상의 시험 시간이 필요합니다. 또한, 200nA 이하의 LOWER 판정에는 1.0s 이상의 판정 대기 시간이 필요합니다） |
|---|
시간
| 시험 시간 설정 범위（TEST TIME） | 0.5s〜999s TIMER OFF 기능 있음 |
|---|
| 판정 대기 시간 설정 범위（WAIT TIME） | 0.3s〜10s ［TEST TIME ＞ WAIT TIME］ |
|---|
| 정확도 | ±（100ppm ＋ 20ms） |
|---|
